00 CAMPUS ARISTÓTELES CALAZANS SIMÕES (CAMPUS A. C. SIMÕES) IF - INSTITUTO DE FÍSICA Dissertações e Teses defendidas na UFAL - IF
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Campo DCValorIdioma
dc.contributor.advisor1Hickmann, Jandir Miguel
dc.contributor.advisor1Latteshttp://lattes.cnpq.br/0235913656361156por
dc.contributor.referee1Fonseca, Eduardo Jorge da Silva
dc.contributor.referee1LattesFONSECA, E. J. S.por
dc.contributor.referee2Souza, Rogerio Fernandes de
dc.contributor.referee2Latteshttp://lattes.cnpq.br/7212395642213348por
dc.creatorSuárez, Vanessa Isabel Tardillo
dc.creator.Latteshttp://lattes.cnpq.br/7354069903410672por
dc.date.accessioned2015-08-25T19:02:09Z-
dc.date.available2012-11-07
dc.date.available2015-08-25T19:02:09Z-
dc.date.issued2012-02-16
dc.identifier.citationSUÁREZ, Vanessa Isabel Tardillo. Multiprobe microscopy system : atomic force and near field optics. 2012. 108 f. Dissertação (Mestrado em Física geral; Física teórica e computacional; Mecânica estatística; Ótica; Ótica não linear; Proprie) - Universidade Federal de Alagoas, Maceió, 2012.por
dc.identifier.urihttp://repositorio.ufal.br/handle/riufal/1008-
dc.description.abstractIn this work we made a review of how a multi-probes microscope using Atomic Force and Near Field Scanning Microscopy works. Currently, the Nanonics Multiview 4000 instaled at the Materials Caracterization and Microscopy Laboratory (LCMMAT) is not completly working. Nowadays, we are able to do Atomic Force Microscopy (AFM) and reflection and transmission Scanning Near Field Microscopy (SNOM) measurements. This kind of microscope have three probes which are able to do simultaneaous mesurements of AFM, C-AFM, SNOM, Raman Microscopy and nanolitography. It is the first multi-probe microscope to be instaled in Latin America. This work consists in studying the structure of this kind of microscope, how does it make AFM and SNOM measurements and how to analise them. We study the different electronic circuits which are used in this kind of microscopes and we compare both optical and tuning-fork feedback. It was explain step by step how to do and AFM and SNOM measurement. We study the processing and analise of this measurements. Finally, we made some different measurements using this tecniques. Some of this measurements were compared with that found in references in order to try to find some possible aplications which could be useful for future researches at our laboratory.eng
dc.description.sponsorshipCoordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior
dc.formatapplication/pdfpor
dc.languageporpor
dc.publisherUniversidade Federal de Alagoaspor
dc.publisher.countryBRpor
dc.publisher.departmentFísica geral; Física teórica e computacional; Mecânica estatística; Ótica; Ótica não linear; Propriepor
dc.publisher.programPrograma de Pós-Graduação em Física da Matéria Condensadapor
dc.publisher.initialsUFALpor
dc.rightsAcesso Abertopor
dc.subjectAFMeng
dc.subjectSNOMeng
dc.subjectSPMeng
dc.subjectMultiview 4000eng
dc.subjectNanonicseng
dc.subjectAFMpor
dc.subjectSNOMpor
dc.subjectSPMpor
dc.subjectMultiview 4000por
dc.subjectNanonicspor
dc.subject.cnpqCNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::FISICApor
dc.titleSistema de microscopia com multi-pontas : força atômica e campo próximopor
dc.title.alternativeMultiprobe microscopy system : atomic force and near field opticseng
dc.typeDissertaçãopor
dc.description.resumoNeste trabalho realizamos uma revisão do funcionamento do Microscópio Raman Confocal Multipontas com Campo Próximo e Força Atômica modelo Multiview 4000 da empresa Nanonics. Atualmente, o microscópio Multiview 4000 do Laboratório de Caracterização e Microscopia de Materiais (LCMMAT) ainda não se encontra operando aos 100%. Ele encontra-se em fase de montagem, estando disponível hoje em dia para uso só o Microscópio de Força Atômica (AFM) e o Microscópio de Campo Próximo (SNOM) nos modos reflexão e transmissão. Este modelo de microscópio, o qual possui três ponteiras que são capazes de fazer medidas em simultâneo de AFM, C-AFM, SNOM e microscopia Raman Confocal, alem de poder fazer nanolitografia, é o primeiro a ser instalado na America Latina. Durante a realização do presente trabalho, estudamos a estrutura do microscópio, como ele realiza as medidas destas duas técnicas e como elas são feitas. No estudo estrutural do Microscópio foram descritos os princípios físicos que são usados para a formação da imagem, alem dos diferentes tipos de circuitos eletrônicos usados em equipamentos de este tipo. Explicou-se passo a passo como são feitas as medidas de AFM e de SNOM. Estudamos também como é feito o analise e o processamento das imagens. Finalmente foram mostradas algumas imagens que foram feitas usando o microscópio, e comparou-se com alguns resultados encontrados na bibliografia a fim de encontrar possíveis aplicações de cada uma das amostras aqui mostradas.por
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