00 CAMPUS ARISTÓTELES CALAZANS SIMÕES (CAMPUS A. C. SIMÕES) IF - INSTITUTO DE FÍSICA Dissertações e Teses defendidas na UFAL - IF
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Tipo: Dissertação
Título: Mapeamento da condutividade de camadas de grafeno de diferentes espessuras usando a microscopia de força atômica condutora e espectroscopia Raman
Título(s) alternativo(s): Mapping the conductivity of graphene layers of different thicknesses using conductive atomic force microscopy and Raman spectroscopy
Autor(es): Leal, Nazareno Nelito da Silva
Primeiro Orientador: Fonseca, Eduardo Jorge da Silva
metadata.dc.contributor.referee1: Vermelho, Marcos Vinícius Dias
metadata.dc.contributor.referee2: Souza, Samuel Teixeira de
Resumo: O estudo do Grafeno tem sido uma das principais áreas de produção científica na Física devido as suas impressionantes propriedades nas quais possuem um vasto campo de aplicações. Desta maneira, é necessário um conjunto sistemático de métodos de análise para que seja possível quantificar e qualificar as propriedades que sejam interessantes para determinados fins. Com o propósito de mapear a condutividade elétrica em poucas camadas de Grafeno utilizou-se nessa pesquisa as técnicas de microscopia de força atômica para se ter uma noção da estrutura da superfície estudada, a Espectroscopia Raman para analisar a interação da radiação com os átomos de carbono e dela extrair dados úteis bem como o número de camadas, intensidade das bandas �� e ��’ e também a microscopia de força atômica condutora para informações acerca do comportamento da corrente elétrica no grafeno. O método para obtenção do Grafeno deu-se através da técnica de esfoliação mecânica na qual obtém-se esse material estudado a partir da grafite. E com resultados obtidos foi observado a separação e identificação de até 1 camada nas amostras assim também como considerável intensidade de corrente medidas em áreas de seções transversais contendo maior grafeno em maior e em menor quantidade. Dessa forma, através das técnicas utilizadas nesse trabalho foi possível obter com efetividade informações sobre propriedades do material como empilhamento das camadas e condutividade elétrica nas mesmas.
Abstract: The study of graphene has been one of the main areas of scientific production in physics due to its impressive properties in which they have a wide field of applications. In this way, a systematic set of methods of analysis is necessary to be able to quantify and qualify properties that are interesting for certain purposes. With the purpose of mapping the electrical conductivity in a few layers of graphene was used in this research the techniques of atomic force microscopy to have a notion of the structure of the surface studied, the Raman Spectroscopy to analyze the interaction of radiation with the carbon atoms And from it to extract useful data as well as the number of layers, intensity of the G and G 'bands and also the conductive atomic force microscopy for information about the electric current behavior in the graphene. The method to obtain the graphene was given through the technique of mechanical exfoliation in which this material is obtained from the graphite. With the obtained results it was observed the separation and identification of up to 1 layer in the samples as well as considerable current intensity measured in areas of cross sections containing greater graphene in greater and less quantity. Thus, through the techniques used in this work, it was possible to obtain information on the properties of the material, such as stacking of the layers and electrical conductivity in them.
Palavras-chave: Microscopia de força atômica (AFM)
Grafeno
Espectroscopia Raman
Microscópio de força atômica condutora (C-AFM)
Banda G e
Corrente elétrica
Atomic force microscopy
Graphene
Raman spectroscopy
Conductive atomic force microscope (C-AFM)
Layers
G and G 'bands
Electric current
CNPq: CNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::FISICA::FISICA DA MATERIA CONDENSADA
Idioma: por
País: Brasil
Editor: Universidade Federal de Alagoas
Sigla da Instituição: UFAL
metadata.dc.publisher.program: Programa de Pós-Graduação em Física da Matéria Condensada
Citação: LEAL, Nazareno Nelito Da Silva. Mapeamento da condutividade de camadas de grafeno de diferentes espessuras usando a microscopia de força atômica condutora e espectroscopia Raman. 2016. 85 f. Dissertação (Mestrado em Física da Matéria Condensada) - Instituto de Física, Programa de Pós-Graduação em Física da Matéria Condensada, Universidade Federal de Alagoas, Maceió, 2016.
Tipo de Acesso: Acesso Embargado
URI: http://www.repositorio.ufal.br/handle/riufal/2157
Data do documento: 25-mai-2016
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